对于§§极端温度触摸屏§§等我们在苛刻的工业应用中依赖的设备而言，确保其持久耐用和最佳性能是不容置疑的。最近的一次深入讨论阐明了导电触摸屏迹线的耐用性，特别是比较了银墨印刷导电迹线和钼铝 钼（MAM）导电迹线。结论是什么？对于那些追求耐用性和长期性能的人来说，MAM 是更优越的选择。原因如下

背景：85/85 HAST 测试

为了做好铺垫，我们首先介绍了 85/85 HAST 测试的意义，这是一种加速可靠性测试方法。该测试将触摸屏导电迹线等电子元件置于 85°C (185°F) 和 85% 相对湿度的条件下。这种极端条件可以模拟电子产品的长期可靠性，快速跟踪潜在的缺陷和弱点。

IEC/EN 60068-2-78 是一个很好的测试程序，为您设计 HAST 测试提供了指导。

触摸屏银色迁移

触摸屏中的银墨印刷导电痕迹的主要问题之一是银迁移。在电场的影响下，银离子会发生迁移，形成树枝状或细小的金属丝。这种迁移会导致短路，严重影响设备的性能。

在 85/85 HAST 测试条件下，这一挑战更加严峻。湿气和高温会大大加快银迁移的速度。因此，在进行如此严格的测试时，富含银的银油墨印刷导电迹线就会暴露出对这种不良反应的敏感性。

MAM 脱颖而出的原因

钼铝钼（MAM）是一种通常溅射到基底上的薄膜叠层结构，是更可靠的替代品。这有几个原因：

1.固有的稳定性：与银不同，MAM 中的金属--钼（Mo）和铝（Al）--不易发生电化学迁移。这种稳定性使 MAM 成为一种有利的选择，尤其是在需要耐环境应力的应用中。

2.用途驱动的应用：银墨导电迹线通常因其导电性、成本效益和易于应用而受到青睐，而 MAM 导电迹线则在耐用性和使用寿命方面更受青睐。它们对环境因素的耐受性使其成为高性能应用的宝贵选择。

3.测试条件下的性能：在具有挑战性的 85/85 HAST 测试环境中，MAM 对银迁移等因素的抵抗能力显而易见。它在压力下的可靠性和性能巩固了其作为最佳选择的地位。

测试时通电

需要补充的一点是，在测试过程中，设备必须处于运行状态。银迁移过程需要电流。如果没有电场，即使在富含水分的环境中，银离子也会停滞不前。因此，为了准确评估银迁移风险或评估任何其他受电影响的失效机制，设备必须在测试期间通电。这可确保在实际或加速条件下对潜在问题进行全面评估。某些触摸屏控制器在一定时间间隔后会启用省电模式。处于睡眠模式的触摸屏可能会使测试过时。 禁用该模式或在短时间内触发触摸事件是合理的。

时间很重要

银色迁移是一个缓慢的过程，因此不建议测试时间过短。但多长时间才算足够长呢？

高度加速应力测试（HAST）的时间长短取决于多个因素：

1.测试目的：测试的主要目标将决定测试的持续时间。如果您的目标是及早发现新设计中的故障，那么测试持续时间可能较短。相反，如果您希望在加速条件下模拟产品的整个预期寿命，测试时间自然会较长。

2.产品/应用：产品或应用的类型及其预期寿命也会影响测试时间的长短。例如，预期使用几年的消费类电子产品与预期使用几十年的工业设备相比，HAST 的持续时间可能不同。

3.特定标准或指南：如果您遵守某些行业标准或指南，它们可能会规定 HAST 或类似测试的建议持续时间。

4.以前的测试数据或历史数据：如果您有类似产品或部件的先前测试数据或历史数据，则可为适当的测试持续时间提供启示。

5.加速因素：请记住，HAST 是一种加速测试，即在短时间内模拟长期应力。确定加速条件与实际时间的相关性有助于确定测试持续时间。例如，如果在 HAST 试验箱内进行 100 小时的试验相当于实际使用一年（假设），而您的目标是测试产品的五年耐用性，那么您可以进行 500 小时的试验。

一般来说，行业中常见的 HAST 试验持续时间从 96 小时到 1,000 小时或更长，具体取决于上述因素。

但是，咨询可靠性工程师、研究特定行业的指导原则并考虑所测试产品的具体细微差别是非常重要的。根据这些因素定制测试持续时间将确保获得有意义、可操作的结果。

耐久性冠军 MAM

触摸屏技术的好坏取决于其耐用性。在要求顶级性能、稳定性和使用寿命的环境中，在银墨和 MAM 导电迹线之间做出选择就变得非常明显。MAM 凭借其固有的抗挑战性和在 85/85 HAST 测试中久经考验的性能，成为耐用触摸屏导电迹线的领先选择。对于制造商和消费者而言，选择 MAM 意味着提高设备的可靠性，并使未来设备免受潜在故障的影响。在耐用性和可靠性方面，MAM 无疑首屈一指。