触摸屏的产品安全性和耐用性
在开发客户特定的触摸屏的过程中， Interelectronix 使用HALT（高加速寿命测试）和HASS（应力筛选）压力测试方法来相应地测试和优化产品安全性和使用寿命。
在 HALT 使用寿命测试的帮助下，在触摸屏开发过程中的早期阶段就检测到技术弱点和设计错误，并通过选择合适的材料和结构来消除。
HASS 和 HALT 测试用于模拟与应用相关的正常老化和触摸屏在快速过程中的磨损。该测试程序仅需两到五天，从而产生人工老化过程，揭示产品的弱点。
##Ablauf 的 HALT 测试 对于此测试，触摸屏放置在压缩空气室的振动台上。
测试通常从冷阶段测试开始。从 20°C 开始，温度以 10 开尔文步长降低到要检查的最低温度。在每个温度设置下，这大约需要 10 分钟。
在下一步中，触摸屏进行类似的热水平测试，然后进行温度波动测试，在最低和最高温度之间跳跃。
最后，触摸屏必须以 5 Grms 步长证明其抗振性。
由于各个负载的叠加，测试运行结束时的组合应力测试再次产生最大应力。
保证极端条件下的耐用性
不仅特殊解决方案，而且我们的标准触摸屏都经过HALT测试。
“由于我们非常重视面板的坚固设计，因此在获得专利的电阻技术和我们的投射电容模型中仅使用非常坚硬的玻璃表面，这意味着这两种技术都获得了非常好的HALT测试结果。
克里斯蒂安·库恩，玻璃膜玻璃技术专家
我们很乐意根据客户的要求为您进行个性化测试。让我们为您提供建议。