IX5000-IC-5W-U

בקר לנגיעות GFG

חשוב

אנו מספקים בקר מתאים כמעט לכל יישום.

מידע נוסף

להלן תיעוד טכני מפורט של בקרי ה-IC בעלי 5 החוטים שלנו עם שבב יחיד עבור טכנולוגיית GFG ULTRA המוגנת בפטנט שלנו:

תיאור בסיסי

מפרט חומרה

חבילה: MLP-28
ממד חבילה: 5 מ"מ X 5 מ"מ X 0.9 מ"מ
מתח מסופק: 3.3 (2.7 ~ 3.6) VDC, אדווה מרבית של 50 mVpp
צריכת חשמל: מקסימום 75 mA
קצב דיווח מרבי: 200 pps (RS232)/250 pps (USB)
זמן תגובה: מקסימום 25 אלפיות השנייה
רזולוציית A/D: 11 סיביות
חבילה טובה: Tube

מפרט קושחה

המיקרו-מעבד C8051F321-GM מוחל על מודול הבקר. הקושחה בשבב זה שולטת בזיהוי המגע, מצב הלחצן זיהוי.

מאפייני הקושחה

מערכת הפעלה: אין צורך במערכת הפעלה
פרוטוקול: RS232 8N1, 9600 aud/USB 1.1 Low Speed/USB 2.0 Full Speed/ עכבר תואם PS2
פורמט חבילת נתונים: ניתן לסווג את הפרוטוקולים לשתי קבוצות: מנת אבחון ומנת דוח

ציוד היקפי אנלוגי

5 Draht Touchscreen Controller Block Diagramm

- ADC של 10 סיביות - ±1 LSB INL; אין קודים חסרים - תפוקה ניתנת לתכנות של עד 200 ksps - עד 13 כניסות חיצוניות; ניתן לתכנות כחד-צדדי או דיפרנציאלי - חיישן טמפרטורה מובנה (±3 °C) - שני משווים - הפניה למתח פנימי: 2.4 V - גלאי POR/Brown-out - בקר פונקציות USB - תואם USB מפרט 2.0 - פעולה במהירות מלאה (12 Mbps) או במהירות נמוכה (1.5 Mbps) - שחזור שעון משולב; אין צורך בגביש חיצוני לפעולה במהירות מלאה או במהירות נמוכה - תומך בשמונה נקודות קצה גמישות - זיכרון מאגר USB ייעודי של 1 kB - מקלט-משדר משולב; אין צורך בנגדים חיצוניים איתור באגים בשבב - מעגלי ניפוי באגים על שבב מאפשרים ניפוי באגים במערכת במהירות מלאה, לא פולשנית (אין צורך באמולטור) - מספק נקודות שבירה, צעד בודד - בדיקה/שינוי של זיכרון, אוגרים וזיכרון USB - ביצועים מעולים למערכות אמולציה באמצעות שבבי ICE, תרמילי מטרה ושקעים - מתח הפעלה: 2.7 עד 5.25 וולט - טווח טמפרטורות: \-40 עד \+85 °C