Keamanan produk dan daya tahan layar sentuh
Dalam proses pengembangan layar sentuh khusus pelanggan, Interelectronix menggunakan metode uji stres HALT (Highly Accelerated Life Test) dan HASS (Stress Screening) untuk menguji dan mengoptimalkan keamanan produk dan masa pakai yang sesuai.
Dengan bantuan uji masa pakai HALT, kelemahan teknis dan kesalahan desain terdeteksi pada tahap awal selama pengembangan layar sentuh dan dihilangkan dengan pilihan bahan dan konstruksi yang sesuai.
Tes HASS dan HALT digunakan untuk mensimulasikan penuaan normal terkait aplikasi dan keausan layar sentuh dalam proses yang cepat. Prosedur pengujian ini hanya memakan waktu dua hingga lima hari, menciptakan proses penuaan buatan yang mengungkapkan kelemahan suatu produk.
##Ablauf dari tes HALT Untuk pengujian ini, layar sentuh ditempatkan di atas meja bergetar di ruang udara terkompresi.
Tes biasanya dimulai dengan tes tahap dingin. Mulai dari 20° Celcius, suhu diturunkan dalam 10 Kelvin langkah ke suhu minimum yang harus diperiksa. Ini dilakukan selama sekitar 10 menit di setiap pengaturan suhu.
Pada langkah berikutnya, layar sentuh menjalani tes tingkat panas yang serupa dan kemudian mengalami uji fluktuasi suhu, melompat di antara suhu minimum dan maksimum.
Akhirnya, layar sentuh harus membuktikan ketahanan getarannya dalam langkah 5 Grms.
Uji tegangan gabungan pada akhir uji coba kembali menghasilkan tegangan maksimum karena superimposisi beban individu.
Daya tahan terjamin dalam kondisi ekstrem
Tidak hanya solusi khusus tetapi juga layar sentuh standar kami harus menjalani tes HALT.
