Productveiligheid en duurzaamheid van touchscreens
In de loop van de ontwikkeling van klantspecifieke touchscreens gebruikt Interelectronix de HALT (Highly Accelerated Life Test) en HASS (Stress Screening) stresstestmethoden om de productveiligheid en levensduur dienovereenkomstig te testen en te optimaliseren.
Met behulp van de HALT-levensduurtest worden zowel technische zwakheden als ontwerpfouten in een vroeg stadium tijdens de ontwikkeling van een touchscreen gedetecteerd en geëlimineerd door een geschikte materiaalkeuze en constructie.
De HASS- en HALT-test wordt gebruikt om normale, toepassingsgerelateerde veroudering en slijtage van een touchscreen in een snel proces te simuleren. Deze testprocedure duurt slechts twee tot vijf dagen, waardoor een kunstmatig verouderingsproces ontstaat dat de zwakke punten van een product onthult.
##Ablauf van een HALT-test Voor deze test wordt het aanraakscherm op een triltafel in een persluchtkamer geplaatst.
De test begint meestal met een koude fase test. Vanaf 20° Celsius wordt de temperatuur in stappen van 10 Kelvin verlaagd tot de te controleren minimumtemperatuur. Dit gebeurt gedurende ongeveer 10 minuten in elke temperatuurinstelling.
In de volgende stap ondergaat het touchscreen een vergelijkbare warmteniveautest en wordt vervolgens onderworpen aan een temperatuurfluctuatietest, waarbij tussen de minimum- en maximumtemperatuur wordt gesprongen.
Tot slot moet het touchscreen zijn trillingsbestendigheid in 5 Grms-stappen bewijzen.
Een gecombineerde stresstest aan het einde van de testrit genereert opnieuw maximale stress als gevolg van de superpositie van de afzonderlijke belastingen.
Gegarandeerde duurzaamheid onder extreme omstandigheden
Niet alleen speciale oplossingen, maar ook onze standaard touchscreens worden onderworpen aan een HALT-test.
