Iwasan ang pagkakalantad sa init
Ang isang touch system ay maaaring sumailalim sa maraming mga thermal stress factor na may iba't ibang mga sanhi.
Habang sa karamihan ng mga kaso ang pag unlad ng isang sistema ng pagpindot ay nagbabayad ng espesyal na pansin sa pagkakalantad sa init, ang mga mekanismo ng error na sanhi ng malamig o isang permanenteng pagpapalit ng init at lamig ay hindi sapat na isinasaalang alang sa disenyo.
Ang mga kadahilanan ng thermal stress ay maaaring naiiba sa:
- panloob thermal stress at
- panlabas na thermal stress.
Kapag bumubuo ng isang touch system, ang parehong mga panloob at panlabas na impluwensya ng temperatura ay dapat na masuri patungkol sa nakaplanong lokasyon at paggamit at isinasaalang alang sa disenyo.
Maiwasan ang downtime dahil sa pagbabago ng temperatura
Ang panlabas na thermal stress ay kumikilos sa isang touch system mula sa labas. Dahil sa natural na klima sa site o napaka espesyal na temperatura ng kuwarto sa loob ng bahay, napakataas o napakababang temperatura pati na rin ang isang matinding pagbabago ng temperatura mula sa napakainit hanggang sa napakalamig ay maaaring magkaroon ng epekto sa isang sistema ng ugnay.
Sa mga rehiyon na may napakalakas na solar radiation, may panganib na ang temperatura sa loob ng aparato ay maaaring umabot sa 90 degrees dahil sa sariling init at solar radiation ng sistema.
Bukod sa problema ng kabiguan sa operasyon dahil sa overheating o pagkabigo ng electronics dahil sa mababang temperatura, ang matinding temperatura ay laging may epekto sa mga materyales na ginamit.
Ang mga pagbabago sa temperatura ng pare pareho ay maaaring makapinsala sa isang sistema ng ugnay, bukod sa iba pang mga bagay, dahil ang iba't ibang mga koepisyent ng pagpapalawak ng mga materyales na ginamit ay nagiging sanhi ng mga bitak sa pabahay, seal o functional na bahagi.
Dahil ang mga problema sa temperatura ay kabilang sa mga pinaka karaniwang sanhi ng pinsala sa isang sistema ng touch ng lahat ng mga mekanismo ng pinsala, ang mga pagsubok sa temperatura ng lahat ng uri ay kabilang sa pinakamahalagang mga pagsubok sa kapaligiran para sa prototype testing.
